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自動複屈折評価装置 (高速型) |
| 概要 |
高分子(液晶用配向膜)の配向特性やガラス等の応力・歪みの、研究・品質管理において複屈折測定が有効です。
本装置は、光ヘテロダイン計測法により高感度でしかも手軽に実施できるようにした自動複屈折評価装置です。
複屈折を光学的位相差として検出し、複屈折量とその方位角を同時に測定します。
測定結果は、2次元表示・断面表示・3次元表示でビジュアルに表現されます。 |
| 特徴 |
- 高感度・高速測定
光ヘテロダイン計測法の採用
- 高精度
試料を静止させた状態で測定
- 簡単操作
明るい場所でのキーボードレス操作
- ライン組込可能
サンプルステージ変更によりライン組込へのアップグレード可能
- 大型化可能
サンプルの大型化にも対応可能
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| 応用 |
- 液晶用位相差板や光学素子の品質管理
- 光磁気ディスク用基板や光学材料の評価
- 高分子薄膜の研究
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| 性能 |
- 測定項目
リターデーション Re=(nf−ns)d または
δ=(2π/λ)Re nf,ns:主屈折率 d:サンプルの厚さ
λ:光源の波長 方位角(進相軸方位角)φ
- 測定時間
約1秒/ポイント(方位角を含む)
- 測定範囲
Re=0〜260nm δ=0〜150deg. φ=0±90deg.
- 分解能
0.01nm 0.006deg. 0.1deg.
- 精度
±2% ±2% ±2%
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| お問い合わせ |
ソフィア 杉村 または ユニオプト株式会社 築地 まで |
| 注記: |
この製品のパテントは、ユニオプト株式会社が所有しています。
(ソフィアはソフトウェア担当です) |